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簡要描述：低溫黑體和大面源黑體產(chǎn)品尤其是黑體源大量的應(yīng)用于美國系統(tǒng)測試及焦平面探測器測試等領(lǐng)域。
產(chǎn)品型號：廠商性質(zhì)：代理商更新時(shí)間：2025-01-08訪 問 量：2241產(chǎn)品資料：產(chǎn)品分類
詳細(xì)介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 加工定制 | 否 |
低溫黑體和大面源黑體美國SBIR紅外公司成立于1986年，經(jīng)過逾20年的發(fā)展，已經(jīng)成為國際上電光測試裝備的*，所研發(fā)產(chǎn)品尤其是黑體源大量的應(yīng)用于美國紅外系統(tǒng)測試及焦平面探測器測試等領(lǐng)域。其產(chǎn)品性能主要如下：
腔式黑體
低溫黑體
大面源黑體
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